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探討LED技術標準和檢測方法

時間:2013-08-12 21:35:04來源:原創(chuàng) 作者:admin 點擊:

LED照明器具由LED光源、電器附件和器具組成。它采用半導體發(fā)光的器件光源,具有體積小、壽命長、能耗低、瞬時啟動、顏色豐富等特點,是一種環(huán)保節(jié)能的冷光源。     <<提示:容源電子網(wǎng)為廣大電子愛好者提供電路圖專題網(wǎng)站“容源電路圖網(wǎng)”,歡迎訪問。匯聚大量電路圖與你共同分享。》

 


  近年來,美國、日本、及歐洲等發(fā)達國家及政府組織在LED發(fā)光投入大量的人力、物力組織開發(fā)和研究,使LED光源的技術水平有了大幅度的提高,功率已經(jīng)達到了3~3W,發(fā)光效率達到301m/w,使LED光源用于普通照明成為。    <<提示:容源電子網(wǎng)為廣大電子愛好者提供電路圖專題網(wǎng)站“容源電路圖網(wǎng)”,歡迎訪問。匯聚大量電路圖與你共同分享。》

 

 
  LED產(chǎn)品將成為最新的節(jié)能照明產(chǎn)品。但是LED照明器具是高技術、高附加值產(chǎn)品,我國以往對LED照明的研究還很薄弱,與國外水平相差很大,特別是在應用基礎的研究還不能滿足我國產(chǎn)業(yè)發(fā)展的。    <<提示:容源電子網(wǎng)為廣大電子愛好者提供電路圖專題網(wǎng)站“容源電路圖網(wǎng)”,歡迎訪問。匯聚大量電路圖與你共同分享。》

 


  在LED照明產(chǎn)品檢測技術和產(chǎn)品標準遠遠不能適應我國LED照明工業(yè)發(fā)展的要求。 我國LED照明的發(fā)展,首先應當建立和健全我國LED照明器具的技術標準和測試方法評價體系,規(guī)范現(xiàn)有的檢測系統(tǒng),使不同企業(yè)的產(chǎn)品依據(jù)統(tǒng)一的測試方法檢測,只有這樣才能真正了解我國LED照明產(chǎn)品的技術水平,進而推動我國LED照明工業(yè)的技術進步,促進行業(yè)發(fā)展。     <<提示:容源電子網(wǎng)為廣大電子愛好者提供電路圖專題網(wǎng)站“容源電路圖網(wǎng)”,歡迎訪問。匯聚大量電路圖與你共同分享。》

 


  LED照明器具技術標準和測試方法的建立,也將會促進半導體技術的進步,對LED照明產(chǎn)品的生產(chǎn)和質(zhì)量的提高,縮短我國與國際水平的差距,具有極其重要的現(xiàn)實意義和深遠的歷史意義,將會產(chǎn)生巨大的經(jīng)濟效益和社會效益。 
  照明LED標準及檢測技術的現(xiàn)狀 國際照明委員會(CIE)和國際電工委員會(IEC)都沒有關于照明LED的標準。     <<提示:容源電子網(wǎng)為廣大電子愛好者提供電路圖專題網(wǎng)站“容源電路圖網(wǎng)”,歡迎訪問。匯聚大量電路圖與你共同分享。》

 


  僅僅在上世紀90年代,CIE曾經(jīng)發(fā)表了一個LED測試方法的技術報告。但是近年來LED產(chǎn)品的技術發(fā)展迅速,現(xiàn)在發(fā)現(xiàn)的LED的許多技術特性都是過去所未考慮到的。,在1999年日本京都舉行的IEC年會上,與會的發(fā)達國家代表提議由IECTC34(照明技術委員會)制定白光LED照明器具標準,日本代表團還提交了照明用白光LED的兩項標準草案。發(fā)展照明LED,發(fā)達國家都非常重視LED測試方法及標準的研究。例如美國國家標準檢測研究所(NIST)是一個世界著名的測試研究機構(gòu),目前他們組織國際知名測試專家開展LED測試的研究,重點研究LED發(fā)光特性、溫度特性和光衰特性等測試方法,試圖建立整套的LED測試方法和技術標準,在LED測試已經(jīng)走在了世界的前列。日本成立了“白光LED測試研究委員會”,專門研究照明用白光LED的測試方法和技術標準。世界發(fā)達國家搶占LED研究的制高點,在LED標準和測試都投入了大量的人力物力,在標準注重選擇LED特性參數(shù)及測試方法研究。 我國目前無LED照明器具標準,也沒有相應的LED照明檢測系統(tǒng)。企業(yè)采購了部分檢測設備。但缺少專業(yè)的研究,檢測水平低,儀器配套性差,檢測精度低,互相不可比對,測試項目不能滿足。我國的專業(yè)檢測機構(gòu)雖然也曾開展的LED測試的研究工作,但條件所限,尚不能形成完整的檢測評價系統(tǒng),其水平與國外發(fā)達國家仍有較大差距。     容-源-電-子-網(wǎng)-為你提供技術支持

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